Z結構組合蓋帽優(yōu)點(diǎn)：
1、可以有效的降低封口變形對CID焊點(diǎn)的影響，防止電池零電壓。
2、該結構具有優(yōu)良的抗震性，特別適合在機械振動(dòng)較大的環(huán)境中使用。
3、設計上的里外區別對待，有效降低電池內部高溫對電池的二次損傷。
